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Thick 800能量色散X荧光光谱仪

描述:Thick 800 X荧光光谱仪主要针对大件部件的镀层厚度和含量的无损、快速测定,采用上照式,通过三维的移动和激光定位,实现对尺寸范围较大部件进行镀层厚度和含量的点测量.

更新时间:2017-07-08
浏览次数:676
厂商性质:代理商
详情介绍

 

Thick 800
Thick 800 X荧光光谱仪主要针对大件部件的镀层厚度和含量的无损、快速测定,它不同于EDX600B的下照式和封闭样品腔的设计,而是采用上照式,通过三维的移动和激光定位,实现对尺寸范围较大部件进行镀层厚度和含量的点测量.应用领域:黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测;金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;贵金属加工和首饰加工行业;银行、首饰销售和检测机构;电镀行业。
◆◆技术指标:
元素分析范围:从K到U
一次性可同时分析多层镀层
分析厚度检测出限zui高达0.01um
同时可分析多达5层以上镀层
相互独立的基体效应校正模型,厚度分析方法
多次测量重复性zui高可达0.01um
长期工作稳定性小于0.1um(5um左右单镀层样品)
温度适应范围:15~30
输出电压220±5V/50HZ(建议配置交流净化稳压电源)
◆◆配置
开放式样品腔
二维移动样品平台
探测器和X光管上下移动可实现三维移动
双激光定位装置
准直器自动切换装置
玻璃屏蔽罩
正比计数盒探测器
信号检测电子电路
高低压电源
X光管
计算机及喷墨打印机
样品腔尺寸:517mm×352mm×150mm
外型尺寸:648mm×490mm×544mm

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